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电子与信息学报  2005, Vol. 27 Issue (9): 1383-1387     DOI:
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距离向多孔径超宽测绘带成像体制中各项误差分析
郭琨毅①②;王小青①②; 盛新庆
中国科学院电子学研究所微波成像技术国家重点实验室,北京100080;中科院研究生院,北京100039
Error Analysis About Range Multi-aperture SAR Imaging System
Guo KunYi①②;Wang XiaoQing①②;Cheng XinQing
National Key Laboratory of Micro-wave Imaging Technology, Institute of Electronics,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100080,China;
Graduate School, Beijing 100039, China

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