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电子与信息学报  2012, Vol. 34 Issue (11): 2767-2773    DOI: 10.3724/SP.J.1146.2012.00165
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基于EGARCH过程的电磁频谱占用状态波动特性分析
王磊*    苏东林    谢树果    王国玉
北京航空航天大学电子信息工程学院  北京  100191
Electromagnetic Spectrum Occupancy State Volatility Analysis Based on EGARCH Process
Wang Lei    Su Dong-lin    Xie Shu-guo    Wang Guo-yu
School of Electronics and Information Engineering, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing 100191, China

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