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电子与信息学报  2011, Vol. 33 Issue (9): 2205-2211    DOI: 10.3724/SP.J.1146.2010.01266
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处理器可靠性约束的电压频率岛NoC能耗优化
张剑贤*①    周端    杨银堂    赖睿    高翔
(西安电子科技大学微电子研究所  西安  710071)  (西安电子科技大学计算机学院  西安  710071)
Energy Optimization of NoC Based on Voltage-frequency Islands under Processor Reliability Constraints
Zhang Jian-xian    Zhou Duan    Yang Yin-tang    Lai Rui    Gao Xiang
(Institute of Microelectronics, Xidian University, Xi’an 710071, China)
(School of Computer Science and Technology, Xidian University, Xi’an 710071, China)

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