电子与信息学报
   
  
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电子与信息学报  2011, Vol. 33 Issue (6): 1520-1524    DOI: 10.3724/SP.J.1146.2011.00011
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ELVQ算法实现宽参数偏移的多故障电路诊断
徐崇斌①    赵志文*①②    郑慧芳
(北京师范大学信息科学与技术学院  北京  100875)  (北京航空航天大学惯性技术国防科技重点实验室  北京  100191)
(中国科学院电子学研究所  北京  100190)
Multi-fault Diagnosis for Wide-deviation Analog Circuits Based on ELVQ Algorithm
Xu Chong-bin①    Zhao Zhi-wen①②    Zheng Hui-fang
(School of Information, Beijing Normal University, Beijing 100875, China)
(Key Lab of Inertial Technology for National Defense, Beihang University, Beijing 100191, China)
(Institute of Electronics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190, China)

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