电子与信息学报
   
  
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电子与信息学报  1995, Vol. 17 Issue (1): 55-59     DOI:
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一种新的故障测试率的概率估计方法
丁瑾; 胡健栋
北京邮电大学培训中心 北京 100088
A NEW PROBABILISTIC APPROACH TO ESTIMATE TESTABILITY
Ding Jin; Hu Jiandong
Beijing University of Posts and Telecommunications, Beijing 100088

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