电子与信息学报
   
  
   首页  |  期刊介绍  |  出版道德声明  |  编 委 会  |  投稿指南  |  期刊订阅  |  联系我们  |  留言板  |  English
电子与信息学报  2008, Vol. 30 Issue (6): 1517-1520     DOI: 10.3724/SP.J.1146.2007.00886
研究简报 最新目录| 下期目录| 过刊浏览| 高级检索 |
基于负反馈箝位技术的高性能CMOS带隙基准源
曹寒梅; 杨银堂; 蔡 伟; 陆铁军; 王宗民
西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 西安 710071;
北京微电子技术研究所 北京 100076
High Performance CMOS Bandgap Reference Source Based on Negative Feedback Clamp Technique
Cao Han-mei; Yang Yin-tang; Cai Wei; Lu Tie-jun; Wang Zong-min
Microelectronics Institute, Xidian University, Key Lab of Ministry of Education for Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices, Xi’an 710071,China;Beijing Microelectronics Insistute of Technology, Beijing 100076, China

     京ICP备20021838号-8

版权所有 © 2010 《电子与信息学报》编辑部
中国科学院电子学研究所, 北京市2702信箱,邮编:100190 
电话:+86-10-58887066 传真:+86-10- 58887539,Email: jeit@mail.ie.ac.cn

本系统由北京玛格泰克科技发展有限公司设计开发  技术支持:support@magtech.com.cn